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科惠力为半导体和电子行业提供高速不停留的在线检测产品,以解决传统机台需要将零件停留进行检测而导致效率低下的问题。这种解决方案优化了生产过程、提高了产量、增强了制精度。Saber3D™系列是科惠力为半导体检测和测量需求提供的最新研发成果。Saber™利用先进光学设计不停留测量半导体芯片封装。该高清视觉系统有特定的芯片封装质量检测选项,并在系统内部进行处理判断,无需外接其他计算设备。Saber™采用了与3DX™产品非常相似的先进LED照明系统。  



产品特点

- 三维高清、多目三角成像技术

- 实时区域抓取测量:无激光、非线扫描

- 多光谱LED频闪照明

- 具备多零件及视场特定区域检测能力

- 支持最新的有引脚、BGA、QFN芯片类型

- 芯片类型变化无需更换系统硬件

- 无需外接其他计算设备

- 用户可自主设定检测区域



技术参数

- 视场范围: 35 mm x 35 mm

- 相机分辨率: 4 MP

多零件检测:可以

- 曝光时间: 50 μs

- 图像触发:XY双通道内部频闪

- 检测允许运动速度:150 mm/秒

- 模块重量:6.5 kg (14.3 lbs)       

- 功率:60 watts @ 24 VDC


                                                                      












































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